TEM和SEM的区别

SEM(扫描电子显微镜/显微镜)和TEM(透射电子显微镜/显微镜)都是指电子显微镜中使用的仪器和方法。

这两者之间有许多相似之处。这两种都是电子显微镜，可以观察、研究和检查小的亚原子粒子或样品的组成。两者都使用电子(具体地说，电子束)，即原子的负电荷。此外，使用的两种样品都需要“染色”或与特定元素混合才能产生图像。这些仪器产生的图像被高度放大，具有高分辨率。

扫描电镜和透射电镜也有一些不同之处。扫描电镜是基于散射电子，透射电镜是基于透射电子。SEM中的散射电子分为后向散射电子或二次电子。然而，在透射电镜中没有其他的电子分类。

显微镜对散射电子进行采集和计数后，SEM中的散射电子产生样品的图像。在透射电镜中，电子直接指向样品。穿过样品的电子就是图像中被照亮的部分。
分析的重点也不同。扫描电镜关注的是样品的表面及其成分。瞬变电磁法试图观察地表内外的情况。扫描电镜显示的是样品的一点一点，而透射电镜显示的是样品的整体。扫描电镜还提供三维图像，而透射电镜提供二维图像。

在放大倍率和分辨率方面，TEM与SEM相比具有优势。TEM具有高达5000万的放大倍率，而SEM仅提供200万的最大放大倍率。TEM的分辨率为0.5埃，SEM的分辨率为0.4纳米。然而，与TEM生成的图像相比，SEM图像具有更好的景深。
另一个不同点是样品厚度、“染色”和准备。与扫描电镜样品相比，透射电镜样品被切割得更薄。此外，扫描电镜样品被捕获散射电子的元素“染色”。

在扫描电镜中，样品是在专门的铝存根上制备的，并放置在仪器腔室的底部。样品的图像被投射到CRT或类似电视的屏幕上。TEM要求样品在TEM网格中制备，并放置在显微镜专用腔室的中间。图像是由显微镜通过荧光屏产生的。

SEM的另一个特点是放置样品的区域可以以不同的角度旋转。
透射电镜的发展早于扫描电镜。瞬变电磁法是由Max Knoll和Ernst Ruska在1931年发明的。同时，SEM成立于1942年。由于机器扫描过程的复杂性，它是在较晚的时候开发的。